12 декабря Институт прикладных экономических исследований Российской академии народного хозяйства и государственной службы при Президенте Российской Федерации (ИПЭИ РАНХиГС) при участии экспертов Федеральной службы по интеллектуальной собственности, Министерства образования и науки Российской Федерации, Федерального агентства научных организаций, ведущих университетов России и центральных СМИ был проведен экспертный научный семинар на тему «Патентная активность россиян: успех или поражение?».

Согласно отчету Роспатента, число россиян, желающих запатентовать свои разработки в 2015 году, достигло максимума за последние годы и более чем на 20% превысило показатели 2014 года. По данным Всемирной организации интеллектуальной собственности, Россия входит в топ-10 стран мира, резиденты которых демонстрируют наивысшую изобретательскую активность. При этом, по единодушному мнению экспертов, отечественный рынок интеллектуальной собственности, по-прежнему, характеризуется как слабо развитый.

В 2016 году в рамках НИР Государственного задания Академии Центр научно-технической экспертизы ИПЭИ получил важные результаты, раскрывающие особенности патентного ландшафта России, которые дают возможность выявить ключевые  проблемы научно-технологического развития страны, а также причины недостижимости глобального технологического лидерства и технологического суверенитета РФ в краткосрочной перспективе.

На семинаре будут рассмотрены следующие вопросы:

Время: 12 декабря с 14.00 до 20.00.
Место: м.«Юго-Западная», г. Москва, пр-т Вернадского, 82, корпус 5, аудитория 407.Контакты: 
Ерёмченко Ольга, старший научный сотрудник ЦНТЭ ИПЭИ Академии,
Телефон: +7 499 956-95-48, +7 499 956-95-39.
Email: